葉面積指數(shù)測量儀介紹|葉面積指數(shù)測量儀功能及原理詳解

葉面積指數(shù)測量儀介紹：

葉面積指數(shù)測量儀是款用來測量高層植物冠層的科研儀器！它采用魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器來獲取植物冠層圖像，并通過專業(yè)分析軟件即可準(zhǔn)確而快速的獲取植物冠層中的葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過率等相關(guān)參數(shù)。儀器可直接測量不同高度的植物冠層，同時也能得到群體內(nèi)光透過率和葉面積指數(shù)垂直分布圖。同時葉面積指數(shù)測量儀還自帶USB接口，用戶在測量時直接連接電腦即可實時查看冠層圖像等，可廣泛用于作物、植物群體冠層受光狀況的測量分析以及農(nóng)林業(yè)科研領(lǐng)域！

葉面積指數(shù)測量儀原理：

葉面積指數(shù)測量儀是采用冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理，依據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律。在植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。

葉面積指數(shù)測量儀測量指標(biāo)：

葉面積指數(shù)測量儀可以無損測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內(nèi)外的光合有效輻射（PAR）等參數(shù)。

葉面積指數(shù)測量儀功能：

1、儀器無損測量植物葉面積指數(shù)、葉片平均傾角以及冠層結(jié)構(gòu)。

2、探頭體積小巧，裝在測杠上可任意角度測量植物冠層結(jié)構(gòu)。

3、攝像頭可自動保持水平。

4、USB接口，測量時連接電腦實時查看冠層圖像，即時選取所需圖像并保存。

5、外接大容量鋰電池，適用于野外工作和長時間測量。

6、測量冠層不同高度，可得到群體內(nèi)光透過率和葉面積指數(shù)垂直分布圖。

7、葉面積指數(shù)測量儀配有專用植物分析軟件，有選擇所需圖像區(qū)域的功能（天頂角可分10區(qū)，方位角可分10區(qū)），可屏蔽不合理的冠層部分，僅對有效圖像區(qū)域進行分析，使測量數(shù)據(jù)更加精確。

點擊查看葉面積指數(shù)測量儀更多詳細(xì)信息 >>

浙江托普云農(nóng)科技股份有限公司專業(yè)研發(fā)生產(chǎn)各類植物表型檢測儀器，如果您有任何關(guān)于植物表型檢測儀器方面的需求，歡迎與我們聯(lián)系，我們將為您提供專業(yè)的服務(wù)及技術(shù)支持！