葉面積指數(shù)測(cè)量?jī)x介紹|葉面積指數(shù)測(cè)量?jī)x功能及原理詳解

葉面積指數(shù)測(cè)量?jī)x介紹：

葉面積指數(shù)測(cè)量?jī)x是款用來(lái)測(cè)量高層植物冠層的科研儀器！它采用魚(yú)眼鏡頭和CCD圖像傳感器來(lái)獲取植物冠層圖像，并通過(guò)專(zhuān)業(yè)分析軟件即可準(zhǔn)確而快速的獲取植物冠層中的葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過(guò)率等相關(guān)參數(shù)。儀器可直接測(cè)量不同高度的植物冠層，同時(shí)也能得到群體內(nèi)光透過(guò)率和葉面積指數(shù)垂直分布圖。同時(shí)葉面積指數(shù)測(cè)量?jī)x還自帶USB接口，用戶在測(cè)量時(shí)直接連接電腦即可實(shí)時(shí)查看冠層圖像等，可廣泛用于作物、植物群體冠層受光狀況的測(cè)量分析以及農(nóng)林業(yè)科研領(lǐng)域！

葉面積指數(shù)測(cè)量?jī)x原理：

葉面積指數(shù)測(cè)量?jī)x是采用冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理，依據(jù)光線穿過(guò)介質(zhì)減弱的比爾定律。在植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式，通過(guò)冠層孔隙率的測(cè)定，計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。

葉面積指數(shù)測(cè)量?jī)x測(cè)量指標(biāo)：

葉面積指數(shù)測(cè)量?jī)x可以無(wú)損測(cè)量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過(guò)率、不同太陽(yáng)高度角下的直射輻射透過(guò)率、不同太陽(yáng)高度角下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內(nèi)外的光合有效輻射（PAR）等參數(shù)。

葉面積指數(shù)測(cè)量?jī)x功能：

1、儀器無(wú)損測(cè)量植物葉面積指數(shù)、葉片平均傾角以及冠層結(jié)構(gòu)。

2、探頭體積小巧，裝在測(cè)杠上可任意角度測(cè)量植物冠層結(jié)構(gòu)。

3、攝像頭可自動(dòng)保持水平。

4、USB接口，測(cè)量時(shí)連接電腦實(shí)時(shí)查看冠層圖像，即時(shí)選取所需圖像并保存。

5、外接大容量鋰電池，適用于野外工作和長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量。

6、測(cè)量冠層不同高度，可得到群體內(nèi)光透過(guò)率和葉面積指數(shù)垂直分布圖。

7、葉面積指數(shù)測(cè)量?jī)x配有專(zhuān)用植物分析軟件，有選擇所需圖像區(qū)域的功能（天頂角可分10區(qū)，方位角可分10區(qū)），可屏蔽不合理的冠層部分，僅對(duì)有效圖像區(qū)域進(jìn)行分析，使測(cè)量數(shù)據(jù)更加精確。

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